掉电休眠后不能再次唤醒

muto***

芯片：IAP15W413AS
功能：设备使用电池供电，电池电压4.5V。平时处于掉电休眠状态，按键中断唤醒后，采集并显示数据。然后再次进入休眠。
问题：25年2月生产1K只，其中200只某客户使用中退回50多只，经测试，工作电流为2uA，无法唤醒。断电重启后，恢复正常，可正常唤醒和休眠。
背景：此产品已生产两年多，累计出货上万只，第一次出现此状况。怀疑是客户处有干扰，造成MCU不能被唤醒。

神***

https://www.stcaimcu.com/data/download/Datasheet/STC15-CN.pdf



电路图参考上面




//本示例在Keil开发环境下请选择Intel的8058芯片型号进行编译
//若无特别说明,工作频率一般为11.0592MHz


#include "reg51.h"
#include "intrins.h"

//-----------------------------------------------

sfr P0M1 = 0x93;
sfr P0M0 = 0x94;
sfr P1M1 = 0x91;
sfr P1M0 = 0x92;
sfr P2M1 = 0x95;
sfr P2M0 = 0x96;
sfr P3M1 = 0xb1;
sfr P3M0 = 0xb2;
sfr P4M1 = 0xb3;
sfr P4M0 = 0xb4;
sfr P5M1 = 0xC9;
sfr P5M0 = 0xCA;
sfr P6M1 = 0xCB;
sfr P6M0 = 0xCC;
sfr P7M1 = 0xE1;
sfr P7M0 = 0xE2;

bit FLAG;                       //1:上升沿中断 0:下降沿中断

sbit P10 = P1^0;
sbit P32 = P3^2;
sbit P33 = P3^3;

//-----------------------------------------
//中断服务程序
void exint0() interrupt 0       //INT0中断入口
{
    P10 = !P10;                 //将测试口取反
    FLAG = P32;                //保存INT0口的状态, INT0=0(下降沿); INT0=1(上升沿)
}

//-----------------------------------------------

void main()
{
    P0M0 = 0x00;
    P0M1 = 0x00;
    P1M0 = 0x00;
    P1M1 = 0x00;
    P2M0 = 0x00;
    P2M1 = 0x00;
    P3M0 = 0x00;
    P3M1 = 0x00;
    P4M0 = 0x00;
    P4M1 = 0x00;
    P5M0 = 0x00;
    P5M1 = 0x00;
    P6M0 = 0x00;
    P6M1 = 0x00;
    P7M0 = 0x00;
    P7M1 = 0x00;

    IT0 = 0;                    //设置INT0的中断类型为上升沿和下降沿,上升沿和下降沿均可唤醒
//  IT0 = 1;                    //设置INT0的中断类型为仅下降沿,下降沿唤醒

    EX0 = 1;                    //使能INT0中断
    EA = 1;

    while (1)
    {
        PCON = 0x02;            //MCU进入掉电模式
        _nop_();                //掉电模式被唤醒后,首先执行此语句,然后再进入中断服务程序
        _nop_();
        _nop_();
        _nop_();
        _nop_();
        _nop_();
    }
}


//  多加几个  _nop_();

Debu***

PCON|=0x02前后分别加4个或以上NOP

xiaob***

大概率是死机了。
我有遇到一些情况，比如强干扰之后串口发送的数据里面掺杂了一些非常窄的脉冲，这导致接收端出现无法解析的情况，通讯失败，此时即便硬件复位芯片依然不能解决问题。只能断电重启才能恢复。这个问题困扰我很多年了。通讯失败状态下，并不影响其他的功能。

神***

MCU-VCC/GND 管脚就近加 2个 电容 抗干扰

神***