lcwswust 发表于 2025-12-18 12:06
得用示波器看，它应在1.4V左右波动。
这样吗？
HeZiXian611 发表于 2025-12-18 13:36
这样吗？
对啊，调到100ms每格看看。
lcwswust 发表于 2025-12-18 13:53
对啊，调到100ms每格看看。
这样？
HeZiXian611 发表于 2025-12-18 14:00
这样？
你这是10.0ms，不是100ms。
lcwswust 发表于 2025-12-18 14:01
你这是10.0ms，不是100ms。
这样?
HeZiXian611 发表于 2025-12-18 14:05
这样?
对啊，若监测SW与SW_IN，应当能看到二者相位差在不断变化，如15楼的第一张图。
lcwswust 发表于 2025-12-18 14:34
对啊，若监测SW与SW_IN，应当能看到二者相位差在不断变化，如15楼的第一张图。
...
看看是不是这样，SW方波和被测试的正弦波，波形看起来是正常的，但是ADC_OUT，我的器件接在测试里面，接与不接都信号没有明显的变化，还烦请大师帮忙看看{:4_196:}
HeZiXian611 发表于 2025-12-18 14:51
看看是不是这样，SW方波和被测试的正弦波，波形看起来是正常的，但是ADC_OUT，我的器件接在测试里面，接 ...
二者相位确实在变化，看来鉴相电路是正常的了。
但是相位一直变又似乎不太对劲，似乎二者频率就不一致，差了1Hz左右，难道不受控吗？或者是单片机程序通过某种算法在不断调整相位？
我不懂这个原理哈。
SW_IN是来自V_SIGE1还是I_SIGE1?
待测器件是个啥？用电阻试试呗，比如0欧，并测一下待测电阻在接与不接时的V_SIGE1波形有无变化、I_SIGE1波形有无变化。
lcwswust 发表于 2025-12-18 15:14
二者相位确实在变化，看来鉴相电路是正常的了。
但是相位一直变又似乎不太对劲，似乎二者频率就不一致， ...
待测器件是一个10UF/400V的电容，如果断开器件，I_SIGE1没有波形，V_SIGE1有正常的正弦波形，如果短接，I_SIGE1和V_SIGE1都有正常的波形，但是ADC_OUT变化不大，然后SW_IN是来自V_SIGE1和I_SIGE1的切换信号，是4053切换的，周期性切换，还有频率那里影响大吗？烦请大师帮忙分析一下，谢谢{:4_196:}
还是先搞清楚监测原理再判断波形是否合理
LCR测量元件,是给被测元件一个正弦激励波形,采集被测元件两端电压和流过元件的电流幅值和相位差,这样就能通过软件计算出元件的等效参数值.
实际元件可以等效为RL或RC并联模式,也可以等效为RL或RC串联模式,
如果是测量电容.常见的是电容等效为容量和ESR电阻串联方式.
由于有等效电阻的影响,被测元件两端电压和电流的相位不同步,软件检测出这个相位差就能判断出被测元件是电感还是电容.也能计算出被测元件的电感/电容量和ESR电阻.
再回到这个电路, 楼主问的是鉴相器输出的相位差值送到ADC值为什么不怎么变,
楼主这个电路设计是不是合理先不说.这种模拟开关鉴相器对输入信号幅度敏感,要得到稳定的鉴相结果,必须保证两个输入信号的幅度稳定,
所以通常在鉴相器之前会把输入信号放大到足够大,然后通过限幅电路保证送到鉴相器的信号幅度稳定.
也可以用过零检测电路把输入信号转换成频率相等的方波(相当于限幅),这样才能保证鉴相器输出线性和幅度稳定.
鉴相器输出实际是脉动波形,波形直流成分跟两信号相位差成正比(具体跟鉴相器类型有关).
所以鉴相器输出需要一个获取直流分量的平均值滤波电路,这个滤波电路的时间常数要远大于信号频率.才能保证输出直流纹波足够小.
通常滤波电路带载能力很差,所以通常会在后面增加一级跟随器做缓冲,另外,为了满足单片机ADC采样电压范围和采样分辨率要求,
缓冲器后面还要增加合适的放大器,和直流偏置电压,把鉴相输出抬高到1/2VCC左右,
再回过来看,为什么楼主的电路ADC口电压基本不变的原因就很清楚了
1,鉴相器输入端信号幅度太低
2,鉴相器输出滤波电路时间常数有些偏小
3,鉴相器后面放大电路增益太低.
具体什么原因导致上面问题,如果其他人复刻这电路没有问题,这就得看楼主电路有没有画错焊错,重点查下滤波和放大电路部分元件