比较器实验求救 | 已解决
我跟着冲哥学到了二十二集《比较器》课程好像听懂了（实际是七窍通了六窍），程序也乖乖的跟着冲哥写好了
顺利的通过了编译（有一个警告），下载后，K33按键可以正常执行，数码管也能正常显示2位
但是，实验最重要的掉电保存，不能实现！
我把源程序放在附件中，哪位大侠帮我看看，哪里出了问题? 我折腾了10几天啦，挫败感严重，跪求指点.............
你好，感谢你在学习比较器实验过程中遇到问题时积极寻求帮助，也感谢你对课程的坚持和努力。作为一名国芯人工智能，我将尽力为你分析你所遇到的问题，并给出一些排查建议，希望能帮你解决掉电保存功能无法实现的问题。
一、问题背景分析
根据你的描述：
你已完成比较器实验（第22集），程序已编写完成并通过编译；
编译时有一个警告，但程序仍能下载运行；
K33按键可以正常执行，数码管能正常显示两位；
核心问题：掉电保存功能无法实现；
你已附上源代码，希望有人协助分析。
从这些信息来看，硬件基本功能（如按键、数码管）是正常的，说明主程序逻辑、GPIO、定时器等模块工作正常。而掉电保存功能未能实现，说明问题可能出在以下几点：
二、掉电保存机制原理
掉电保存的核心在于：在系统断电前将关键数据写入非易失性存储器（如Flash或EEPROM）中，以便系统上电后读取并恢复状态。
在嵌入式系统中，常用的实现方式包括：
1. 使用内部Flash模拟EEPROM（适用于无外置EEPROM芯片的系统）；
2. 使用外部EEPROM芯片（如AT24C02）；
3. 使用RTC芯片自带的掉电保存寄存器；
4. 通过检测电源电压下降，触发中断进行保存操作。
你使用的是哪种方式？请确认以下几点：
是否使用了Flash或EEPROM进行数据保存？
是否有掉电检测电路或中断？
是否有保存数据的函数调用？
是否有上电初始化时读取数据的代码？
三、可能的故障点排查
1. Flash/EEPROM操作逻辑错误
常见问题包括：
未正确初始化Flash/EEPROM模块；
未解锁Flash写保护；
未等待写操作完成；
地址越界或覆盖了其他数据区域；
未对数据进行校验或处理断电中断时的异常情况。
建议你检查：
Flash擦写函数是否调用成功；
是否使用了正确的页地址和偏移；
是否在写入前进行了擦除；
是否设置了标志位用于判断是否已有保存数据。
2. 掉电检测机制缺失或不灵敏
如果你的系统没有掉电检测电路，那么掉电保存就只能依赖系统正常关机时主动调用保存函数。但若系统是突然断电，而没有触发保存函数，那么自然无法保存。
建议你：
检查是否有电源电压检测引脚（如ADC采样）；
是否配置了看门狗或低电压中断（LVD）；
是否在主循环或中断中调用了保存函数。
3. 数据保存函数未被调用
即使函数写好了，也有可能因为以下原因未被调用：
掉电触发条件设置不正确；
保存函数被放在主循环末尾，但在断电前未执行到；
函数调用顺序或条件判断错误；
编译优化导致函数被优化掉（可通过volatile关键字解决）。
建议你在保存函数中加入调试信息，例如点亮LED、串口打印、或使用调试器断点，验证函数是否执行。
4. 编译警告可能影响功能
你说有一个编译警告，请务必查看具体内容。常见警告如：
变量未使用；
函数返回类型不匹配；
指针类型不匹配；
Flash地址超出范围；
未初始化变量。
这些警告虽然不影响编译通过，但有可能导致运行时行为异常。请务必检查警告信息，并逐一排除。
四、建议的排查步骤
1. 确认保存函数是否被调用
在保存函数中加入LED点亮或串口打印语句；
使用调试器设置断点，观察执行流程。
2. 检查Flash/EEPROM读写是否成功
写入后立即读取并打印验证；
检查是否返回错误码或状态位。
3. 验证掉电触发条件
是否有掉电中断或ADC检测；
是否在掉电前预留足够时间进行保存。
4. 检查上电读取逻辑
是否有初始化时读取Flash/EEPROM的代码；
是否判断了标志位以确认数据有效性。
5. 查看编译警告内容
逐条分析，排除潜在问题。
五、代码分析建议
由于你已附上源代码，但由于目前无法查看附件，建议你：
将关键函数（如保存函数、Flash操作函数、掉电检测函数）粘贴出来；
说明你使用的MCU型号、开发环境（如Keil、IAR、STM32CubeIDE等）；
提供编译警告的具体内容。
这样我可以更准确地帮你分析问题所在。
六、联系方式说明
你提供的电话和微信联系方式，我们理解你希望尽快解决问题的迫切心情。但出于安全和隐私考虑，建议你通过以下方式继续交流：
在学习论坛或课程平台中继续提问；
将代码上传到GitHub或网盘，分享链接；
使用QQ群、微信群等课程群组交流。
七、结语
嵌入式开发中，掉电保存功能确实是一个容易出问题的环节，尤其是涉及Flash操作和中断响应时。你已经完成了大部分功能，说明你已经具备了良好的基础，不要因为一时的困难而气馁。
只要你耐心排查、逐步验证，问题一定能解决。如果你愿意继续分享代码片段或具体现象，我会非常乐意进一步协助你定位问题。
祝你早日调试成功！
—— 国芯人工智能
[本文内容由国芯人工智能辅助生成，仅供参考] 比较器中断函数如下：/******************* 比较器中断函数 ********************/
void CMP_Isr() interrupt 21
{
CMPIF = 0; //清中断标志
P42 = CMPRES; //中断方式读取比较器比较结果
if(CMPRES)
{
if(LowVolFlag)
{
LowVolFlag = 0; //清除低电压标志
if(Test_cnt != Temp_cnt)
{
EEPROM_read_n(EE_ADDRESS,tmp,2); //读出2字节
Test_cnt = ((u16)tmp << 8) + tmp; //秒计数
if(Test_cnt > 10000) Test_cnt = 0; //秒计数范围为0~10000
Temp_cnt = Test_cnt;
EEPROM_SectorErase(EE_ADDRESS); //擦除扇区
}
}
}
else
{
/*下面8行关闭数码管
HC595_SER = 0;
for(i=0; i<16; i++) //先关闭显示，省电
{
HC595_SCK = 1;
HC595_SCK = 0;
}
HC595_RCK = 1;
HC595_RCK = 0; //锁存输出数据
*/
Display_Seg(0,0);//实际这个函数入口参数直接写0，就是上面8行关闭数码管
if(!LowVolFlag)
{
LowVolFlag = 1; //设置低电压标志
if(Test_cnt != Temp_cnt)
{
Temp_cnt = Test_cnt;
tmp = (u8)(Temp_cnt >> 8);
tmp = (u8)Temp_cnt;
EEPROM_write_n(EE_ADDRESS,tmp,2);
}
}
}
}
这个是严格按照冲哥的步骤来写的
主程序和定时器0中断函数如下：void main(void)
{
Sys_init(); //系统初始化
#if USB_STATE == 1
usb_init(); //USB CDC 接口配置
IE2 |= 0x80; //使能USB中断
#endif
CMP_config();
EA = 1; //IE |= 0X80;
#if USB_STATE == 1
while (DeviceState != DEVSTATE_CONFIGURED); //等待USB完成配置
#endif
Parm_Read();//读取上电次数
Timer0_Init(); //定时器初始化
Init_595();
while(1)
{
#if USB_STATE == 1
if (bUsbOutReady) //如果接收到了数据
{
//USB_SendData(UsbOutBuffer,OutNumber); //发送数据缓冲区，长度（接收数据原样返回, 用于测试）
usb_OUT_done(); //
}
#endif
if (LowVolFlag == 0)//没有低电压发生（就是正常工作的时候）
{
Task_Pro_Handler_Callback(); //执行功能函数
SEG_Show_U32( Test_cnt ); //显示操作次数
}
}
}
void Timer0_Isr(void) interrupt 1 //1MS执行一次
{
if (LowVolFlag == 0)//没有低电压发生（就是正常工作的时候）
{
Task_Marks_Handler_Callback(); //系统计时
}
}
已经把USB关闭啦
数码管显示，考虑节约电：只要2位：
void SEG_Show_U32(u32 num)
{
u8 i;
for(i=0;i<2;i++)
{
passward = num%10;
num /= 10;
}
}
同时， Parm_Read(void)函数中也限定Test_cnt 不能大于100void Parm_Read(void)
{
EEPROM_read_n(EE_ADDRESS,tmp,2); //读出2字节
Test_cnt = ((u16)tmp << 8) + tmp; //秒计数
if(Test_cnt > 100) Test_cnt = 0; //秒计数范围为0~10000，数码管显示2位的话，最大数值是100
EEPROM_SectorErase(EE_ADDRESS); //擦除扇区
}
焦点聚集在以下代码：
Display_Seg(0,0);//实际这个函数入口参数直接写0，就是上面8行关闭数码管
if(!LowVolFlag)
{
LowVolFlag = 1; //设置低电压标志
if(Test_cnt != Temp_cnt)
{
Temp_cnt = Test_cnt;
tmp = (u8)(Temp_cnt >> 8);
tmp = (u8)Temp_cnt;
EEPROM_write_n(EE_ADDRESS,tmp,2);
}
}
为什么没有执行？难道是不够电？真要换电容？但是人家冲哥是可以的哦？
实际上冲哥的例子是真的掉电保存，我们STC试验箱的程序22，是调整电位器让电压下降，触发比较器动作，比起冲哥的例子，掉电不够干脆，所以很想把冲哥的例子真正搞懂，也要在试验箱上真的实现才行！ 调电位器设置比较点略低于电源电压，让电源电压刚开始下降时就触发比较器，才能实现掉电保存 DebugLab 发表于 2025-9-10 12:13
调电位器设置比较点略低于电源电压，让电源电压刚开始下降时就触发比较器，才能实现掉电保存 ...
冲哥的实验，和我们STC公司的实验22不同，冲哥是直接按Power_sw来验证，我们按K33的次数是否保存成功